(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利说明书 | ||
(10)申请公布号 CN 108021738 A (43)申请公布日 2018.05.11 | ||
(21)申请号 CN201711129686.4
(22)申请日 2017.11.15
(71)申请人 南京邮电大学
地址 210003 江苏省南京市鼓楼区新模范马路66号
(72)发明人 李鑫 张登银 丁飞 殷俊
(74)专利代理机构 南京知识律师事务所
代理人 李吉宽
(51)Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图 |
(54)发明名称
(57)摘要
本发明公开了一种具有稀疏性的芯片单性能成品率预测方法。基于工艺参数扰动，设计具有随机性的芯片性能归一化模型；其次，根据扰动基函数关键度的高低，利用正则化稀疏算法自适应选取关键扰动基函数对性能模型进行稀疏表示；最后，利用贝叶斯理论和马尔科夫链方法对芯片单性能成品率进行准确预测。本发明考虑了工艺参数扰动的随机性影响，在对芯片成品率进行精确预测同时，可以通过最大限度地剔除影响不显著的扰动基，降低预测方法的复杂度，提高方法的高效性，也很好地解决了设计参数随机性所造成的芯片性能模型的高维性、高仿真成本形象的芯片单性能成品率预测问题，对手设计参数随机新更影响的芯片单性能成品率进行具有稀疏性的准确预测。 | |
| 函数的表示法 |
法律状态
法律状态公告日 | 法律状态信息 | 法律状态 |
权 利 要 求 说 明 书
1.一种具有稀疏性的芯片单性能成品率预测方法,其特征在于,包括以下步骤:
A.利用SPICE进行仿真并提取仿真数据;
B.考虑工艺参数扰动构造基于扰动基的芯片性能归一化统计模型;
C.根据正则化稀疏方法构造具有稀疏性的芯片性能模型;
D.通过马尔科夫链及贝叶斯理论准确预测芯片单性能成品率。
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