材料分析测试试题
一、填空
1、第一个发现X射线的科学家是,第一个进行X射线衍射实验的科学家是。
2、X射线的本质是,其波长为。
3、X射线本质上是一种______________,它既具有_____________性,又具有____________性,X射线衍射分析是利用了它的__ ____________。
4、特征X射线的波长与和无关。而与有关。
飞向太空
5、X射线一方面具有波动性,表现为具有一定的,另一方面又具有粒子性,体现为具有一定的,二者之间的关系为。
6、莫塞来定律反映了材料产生的与其的关系。
7、从X射线管射出的X射线谱通常包括和。
8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线,它们是_____________和_____________,其中在X射线粉末衍射中采用的是____ _______ 。
9、特征X射线是由元素原子中___________引起的,因此各元素都有特定的___________和___________电压,特征谱与原子序数之间服从_____ ______定律。
10、同一元素的入Kα1、入Kα2、入Kβ的相对大小依次为___________;能量从小到大的顺序是_______________。(注:用不等式标出)
11、X射线通过物质时,部分X射线将改变它们前进的方向,即发生散射现象。X射线的散射包括两种:和。
12、hu+kv+lw=0关系式称为______________ ,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关系式,表明__________________________________ 。
15、倒易点阵是由晶体点阵按照
式中,为倒易点阵基矢,
为正点阵基矢的对应关系建立的空间点阵。在这
个倒易点阵中,倒易矢
高低压正常范围量的坐标表达
少年先锋队
式为,其基本性质为。
14、X射线在晶体中产生衍射时,其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线方位间的关系可用_ _____ ______、____ ___________、________________和____________________四种方法来表达。15、当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的波程差是,相邻两个(HKL)反射线的波程差是。
李聪颖
16、布拉格公式λ=2dsinθ中λ表示,d表示,θ表示。
17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是、、。
18.获得晶体衍射花样三种基本的方法中,劳埃法是通过改变来获得衍射花样的,主要用于判断;旋转单晶法是旋转晶体,改变来获得衍射花样的,主要用于研究;粉末法是通过单X 射线照射多晶体样品,改变来产生衍射的,测定样品的。
19、当X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要条件是_______________,而产生衍射的充要条件是_________________________ _ _________ 。
20、X射线的衍射的强度主要取决于和。
21、X射线衍射仪探测器主要性能
是、、、、。
22、测角仪在工作时,为了使样品与计数管始终在同一个____ _______上,二者的转速必须保持____________。
23、测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成300角,则计数管与入射线所成角度为;能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈关系。
24、粉末照相法底片安装方法有三种:、和。25、粉末衍射仪法衍射峰2θ角的测量方法有、、。
26、多晶X射线粉末衍射分析方法通常有和两种。
27.X射线衍射仪的新进展主要有、、三个方面。
28、PDF卡片的二种常用的数值索引是____ _____索引和____ _____索引,前者是按衍射线的_________顺序排列的,后者是按衍射线的_________顺序排列的。
29、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是______ _____,参考_____ ______。
30、X射线衍射定量分析的方法有、、、、。
31、精确测定点阵参数校正或消除误差常用的有哪三种方法?有、、三种方法。
32、X射线衍射仪测定宏观应力的方法主要有和两种。
33、为了测得材料表面沿某个方向上的宏观应力,至少要测_______个方向上某晶面的晶面间距,相应的方法称为_____________ 。
34、织构表示方法有、、三种
35、计算机技术在多晶体衍射中的应用主要有三个方面:①、
②、③。
36、光学显微镜是可见光束通过光学透镜发
生达到放大的目的,而成像
于;电子显微镜是电子束通过电磁场(电子透镜)发生达到放大的目的,并
成像于。
37、电镜中透镜分辨本领取决
于和。
38、波谱仪分析的元素范围为,能谱分析的元素范围为。
39、扫描电镜图像的分辨率决定于和。
40、透射电镜中的电子光学系统可分为、和三部分。41、倒易矢量的长度等于正点阵中。
42、爱瓦尔德球图解法是的几何表达形式。
43、电子衍射基本公式R = λLg 中的R表示,λ表示,L表示,g表示。
44、谱仪的分辨率是的能力。
45、电子波长与其加速电压平方根成,加速电压越,电子波长越。
46、透射电镜粉末样品制备方法有和。
47、复杂电子衍射花样通常包括、、、、
48、电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有和。
49、光电子发射可以分为三个过程,即(1);
(2);(3)。
50、像差分为和两类。51、金属薄膜制备过程大体是:、、。
52、X射线光电子能谱是测定低能电子的动能从而得到光电子的。
53、真正能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子却仅限于表层以下nm的深度范围。54、透射电镜的主要性能指标
是、和。
55、透射电镜成像系统中,若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为
操作;而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为操作。
56、扫描电镜由、、、、和等部分组成。
57、扫描电镜中样品制备的镀膜方法主要有两种:一种是,另一种方法是。
58、电子探针显微分析有四种基本分析方法:、、和。59、电子衍射成像中所指的双光束是和。
60、TEM中物镜的作用是。中间镜在成像时的作用是,
61、衡量透镜的性能优劣的指标是,它取决于
天天向上的歌曲。62、TEM的电子光学系统是由
组成的。
63、平行于膜面的层错衬度特征是,
倾斜与膜面的层错衬度特征是。
论说文
64、影响SEM分辨率的主要因素有